1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80736
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorTominov, R. V.en
dc.contributor.authorAvilov, V. I.en
dc.contributor.authorKlimin, V. S.en
dc.contributor.authorSmirnov, V. A.en
dc.contributor.authorChernenko, N. E.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:30Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:30Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationFormation of memristor structures based on ZnO thin films by scratching probe nanolithography / R. V. Tominov, V. I. Avilov, V. S. Klimin, V. A. Smirnov, N. E. Chernenko // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 217-218.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80736-
dc.description.sponsorshipThis work was supported by Grant of the President of the Russian Federation No. MK-2721.2018.8. and by RFBR according to the research project № 18-37-00299en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleFormation of memristor structures based on ZnO thin films by scratching probe nanolithographyen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage217-
local.description.lastpage218-
local.description.orderP-96-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_155.pdf483,51 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.