Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80717
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSavchenkov, Е. N.en
dc.contributor.authorShandarov, S. М.en
dc.contributor.authorMandel, А. Е.en
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A. R.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:25Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:25Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationLight diffraction on periodically poled domain structures in lithium niobate crystal in an sunusoidal voltage / Е. N. Savchenkov, S. М. Shandarov, А. Е. Mandel, A. R. Akhmatkhanov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 192-193.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80717-
dc.description.sponsorshipThis study was carried out with the financial support of Ministry of Education and Science of Russia (within the task No. 3.1110.2017/4.6 of the project part) and RFBR (Grant 16-29-14046-ofi_m). The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” UrFU has been used.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleLight diffraction on periodically poled domain structures in lithium niobate crystal in an sunusoidal voltageen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage192-
local.description.lastpage193-
local.description.orderP-79-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_138.pdf228,45 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.