Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80717
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Savchenkov, Е. N. | en |
dc.contributor.author | Shandarov, S. М. | en |
dc.contributor.author | Mandel, А. Е. | en |
dc.contributor.author | Akhmatkhanov, A. R. | en |
dc.contributor.author | Shur, V. Ya. | en |
dc.contributor.author | Шур, В. Я. | ru |
dc.date.accessioned | 2020-03-24T06:59:25Z | - |
dc.date.available | 2020-03-24T06:59:25Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.citation | Light diffraction on periodically poled domain structures in lithium niobate crystal in an sunusoidal voltage / Е. N. Savchenkov, S. М. Shandarov, А. Е. Mandel, A. R. Akhmatkhanov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 192-193. | en |
dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-1-4 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80717 | - |
dc.description.sponsorship | This study was carried out with the financial support of Ministry of Education and Science of Russia (within the task No. 3.1110.2017/4.6 of the project part) and RFBR (Grant 16-29-14046-ofi_m). The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” UrFU has been used. | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | Ural Federal University | en |
dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 | en |
dc.title | Light diffraction on periodically poled domain structures in lithium niobate crystal in an sunusoidal voltage | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" | en |
dc.conference.date | 26.08.2018-29.08.2018 | - |
local.description.firstpage | 192 | - |
local.description.lastpage | 193 | - |
local.description.order | P-79 | - |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-1-4_2018_138.pdf | 228,45 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.