1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80714
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorRaevskaya, S. I.en
dc.contributor.authorLutokhin, A. G.en
dc.contributor.authorZakharov, Y. N.en
dc.contributor.authorRaevski, I. P.en
dc.contributor.authorGusev, A. A.en
dc.contributor.authorIsupov, V. P.en
dc.contributor.authorTitov, V. V.en
dc.contributor.authorMalitskaya, M. A.en
dc.contributor.authorLi, G. R.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:25Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:25Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationThe effect of the bias electric field on the dielectric and pyroelectric properties of single crystals and ceramics of Pb2ScNbO6 relaxor ferroelectric / S. I. Raevskaya, A. G. Lutokhin, Y. N. Zakharov, I. P. Raevski, A. A. Gusev, V. P. Isupov, V. V. Titov, M. A. Malitskaya, G. R. Li // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 187.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80714-
dc.description.sponsorshipThis study was supported by RFBR (project 17-03-01293_a), by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (project 3.1649.2017/4.6) and by the Chinese Academy of Sciences President’s International Fellowship Initiative (project 2018VEA0011).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleThe effect of the bias electric field on the dielectric and pyroelectric properties of single crystals and ceramics of Pb2ScNbO6 relaxor ferroelectricen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage187-
local.description.lastpage187-
local.description.orderP-76-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_135.pdf162,31 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.