ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80714| Название: | The effect of the bias electric field on the dielectric and pyroelectric properties of single crystals and ceramics of Pb2ScNbO6 relaxor ferroelectric |
| Авторы: | Raevskaya, S. I. Lutokhin, A. G. Zakharov, Y. N. Raevski, I. P. Gusev, A. A. Isupov, V. P. Titov, V. V. Malitskaya, M. A. Li, G. R. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | The effect of the bias electric field on the dielectric and pyroelectric properties of single crystals and ceramics of Pb2ScNbO6 relaxor ferroelectric / S. I. Raevskaya, A. G. Lutokhin, Y. N. Zakharov, I. P. Raevski, A. A. Gusev, V. P. Isupov, V. V. Titov, M. A. Malitskaya, G. R. Li // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 187. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80714 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
| ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
| Сведения о поддержке: | This study was supported by RFBR (project 17-03-01293_a), by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (project 3.1649.2017/4.6) and by the Chinese Academy of Sciences President’s International Fellowship Initiative (project 2018VEA0011). |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_135.pdf | 162,31 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.