ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Study of the surface profiling of silicon based on the method of local anodic oxidation using scanning probe microscopy | 96 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Study of the surface profiling of silicon based on the method of local anodic oxidation using scanning probe microscopy | 3 | 2 | 2 | 1 | 2 | 1 | 3 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_132.pdf | 61 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 43 |
| Россия | 22 |
| Германия | 10 |
| Франция | 5 |
| Соединенное Королевство | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Бельгия | 1 |
| Канада | 1 |
| Китай | 1 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 15 |
| Ashburn | 6 |
| Hanoi | 3 |
| Placentia | 3 |
| Des Moines | 2 |
| St Petersburg | 2 |
| Andover | 1 |
| Dallas | 1 |
| Ketsch | 1 |
| Noginsk | 1 |