Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80696
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMirzadeh Vaghefi, P.en
dc.contributor.authorBaghizadeh, A.en
dc.contributor.authorLourenço, A. A. C. S.en
dc.contributor.authorAmaral, V. S.en
dc.contributor.authorKholkin, A. L.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:20Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:20Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationGiant strain and induced ferroelectricity in smorphous BaTiO3 films and multiferroic heterostructure under poling / P. Mirzadeh Vaghefi, A. Baghizadeh, A. A. C. S. Lourenço, V. S. Amaral, A. L. Kholkin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 166-167.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80696-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleGiant strain and induced ferroelectricity in smorphous BaTiO3 films and multiferroic heterostructure under polingen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage166-
local.description.lastpage167-
local.description.orderP-60-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_119.pdf251,92 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.