Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79234
Название: | Study of inelastic electron tunneling in the Pt-Au tunnel junction in ultra-high vacuum STM |
Авторы: | Lebedev, D. V. Mukhin, I. S. Shkoldin, V. A. Mozharov, A. M. Golubok, A. O. |
Дата публикации: | 2019 |
Издатель: | Ural Federal University |
Библиографическое описание: | Study of inelastic electron tunneling in the Pt-Au tunnel junction in ultra-high vacuum STM / D. V. Lebedev, I. S. Mukhin, V. A. Shkoldin, A. M. Mozharov, A. O. Golubok // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 108-109. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79234 |
Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
Сведения о поддержке: | This work was carried out with the support of the Russian Science Foundation (Grant 17-19-01532). |
Карточка проекта РНФ: | 17-19-01532 |
Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-2-1_2019_089.pdf | 349,09 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.