ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Investigation of profiling of silicon surface by local anodic oxidation nanolithography for memristors crossbar architecture creating | 104 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Investigation of profiling of silicon surface by local anodic oxidation nanolithography for memristors crossbar architecture creating | 4 | 2 | 3 | 2 | 1 | 5 | 1 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_189.pdf | 74 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 45 |
| Россия | 22 |
| Германия | 8 |
| Австралия | 4 |
| Франция | 4 |
| Сенегал | 4 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Япония | 2 |
| Китай | 1 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 16 |
| Ashburn | 9 |
| Auckland | 1 |
| Basrah | 1 |
| Dallas | 1 |
| Des Moines | 1 |
| Kalyan | 1 |
| Ketsch | 1 |
| Lakemba | 1 |
| Melbourne | 1 |