Программа для моделирования спектров комбинационного рассеяния наночастиц и тонких пленок (NanoPhonon)

Abstract

Программа предназначена для моделирования спектров комбинационного рассеяния наночастиц и тонких пленок. Методики расчета, используемые в данной программе, позволяют на основе известной дисперсионной зависимости собственных колебаний решетки определить ширину спектральных линий комбинационного рассеяния как функцию размера частиц или толщины пленки. Данная программа позволяет решать и обратную задачу: определение размера и типа дисперсии в наноструктурах по известным спектральным параметрам линий комбинационного рассеяния (положение максимума, ширина пика на полувысоте). Программа может быть использован как в учебных целях (для проведения лабораторных работ студентов по дисциплинам «Физика конденсированного состояния» и «Функциональные материалы микро- и наноэлектроники»), так и в научно-исследовательских (количественный анализ экспериментальных результатов).