Способ определения распределения плотности потока электронов по его сечению

Abstract

SUBSTANCE: proposed method comprises arranging long-persistence phosphor-target on flow path, irradiating said target by electron flow, producing on target surface of luminescent image of electron flow section and determining electron flow distribution over said section. Note here that said long-persistence phosphor-target represents nano-structure Be₂(Si_0,8Ge_0,2)O₄-based ceramics, while said distribution is determined quantitatively from said luminescent image of electron flow section converted from analog form into digital form. EFFECT: expanded performances, development and control of accelerating hardware and high-precision electronics.

Изобретение относится к способам измерения параметров направленного излучения, включая измерение таких характеристик потоков заряженных частиц, как их пространственное распределение по плотности и дозам с помощью люминесцентных детекторов ионизирующих излучений. Технический результат - расширение возможностей исследований, создания и контроля ускорительной техники, изделий сильноточной электроники. Способ определения распределения плотности потока электронов по его сечению путем размещения на пути электронного потока люминофора-мишени с длительным послесвечением включает облучение ее электронным потоком, получение на ее поверхности люминесцентного изображения сечения электронного потока и определение по нему распределения плотности потока электронов по его сечению, при этом в качестве материала люминофора-мишени выбирают наноструктурную керамику на основе Be₂(Si_0,8Ge_0,2)O₄, a распределение плотности потока электронов по его сечению определяют количественно по люминесцентному изображению сечения электронного потока, преобразованному из аналоговой формы в цифровую.