1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 10. Институт радиоэлектроники и информационных технологий - РТФ
  3. Конференции, семинары
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/65598
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorКостромитин, К. И.ru
dc.contributor.authorМуталлапов, Р. И.ru
dc.contributor.authorМоторин, П. А.ru
dc.date.accessioned2018-12-18T15:40:52Z-
dc.date.available2018-12-18T15:40:52Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationМуталлапов Р. И. Применение методов измерения волнового сопротивления, ультразвуковых измерений и электронной микроскопии для анализа работы интегральных микросхем / Р. И. Муталлапов, П. А. Моторин // Безопасность информационного пространства — 2017 : XVI Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов, молодых ученых. Екатеринбург, 12 декабря 2017 года. — Екатеринбург : Изд-во Урал. ун-та, 2018. — С. 105-108.ru
dc.identifier.isbn978-5-7996-2404-0-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/65598-
dc.description.abstractПредставлено описание и характеристики методов теплового, элек трического, адаптерного и зондового контроля, применяемых для анализа функци онирования интегральных микросхем. Актуальность использования ультразвукового анализа обусловлена простотой и дешевизной применения данного метода, а метод электронной микроскопии позволяет получить детальное изображение поверхности интегральной микросхемы с возможным последующим испарением слоев высокоэнергетическими пучками электронов для получения топологии интегральной микросхемы, что является актуальным вопросом для обеспечения аппаратной защиты информации.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherИздательство Уральского университетаru
dc.relation.ispartofБезопасность информационного пространства — 2017. — Екатеринбург, 2018ru
dc.subjectТЕПЛОВОЙ АНАЛИЗ МИКРОСХЕМЫru
dc.subjectЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ МИКРОСХЕМЫru
dc.subjectЗОНДОВЫЙ КОНТРОЛЬ МИКРОСХЕМЫru
dc.subjectАДАПТЕРНЫЙ КОНТРОЛЬ МИКРОСХЕМЫru
dc.titleПрименение методов измерения волнового сопротивления, ультразвуковых измерений и электронной микроскопии для анализа работы интегральных микросхемru
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameХVI Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых «Безопасность информационного пространства — 2017»ru
dc.conference.date12.12.2017-
dc.identifier.rsihttps://elibrary.ru/item.asp?id=36842211-
local.description.firstpage105-
local.description.lastpage108-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-7996-2404-0_2018-34.pdf1,48 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.