ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем | 179 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем | 4 | 4 | 10 | 4 | 6 | 1 | 1 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 978-5-7996-2404-0_2018-33.pdf | 262 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Россия | 70 |
| Соединенные Штаты | 49 |
| Германия | 12 |
| Франция | 5 |
| Австралия | 4 |
| Бельгия | 3 |
| Ирландия | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Беларусь | 2 |
| Чехия | 2 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 37 |
| Ashburn | 7 |
| Mumbai | 2 |
| Perm | 2 |
| Perth | 2 |
| Singapore | 2 |
| St Petersburg | 2 |
| Yekaterinburg | 2 |
| Canberra | 1 |
| Chekhov | 1 |