Методика исследования структуры тонких многокомпонентных металлокерамических пленок

Лутфиева, З. З.; Бородина, М. Д.; Юровских, А. С.; Lutfieva, Z. Z.; Borodina, М. D.; Yurovskikh, А. S.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/59720

Title:	Методика исследования структуры тонких многокомпонентных металлокерамических пленок
Other Titles:	METHOD FOR THE STRUCTURE INVESTIGATION OF MULTICOMPONENT THIN METAL-CERAMIC FILMS
Authors:	Лутфиева, З. З. Бородина, М. Д. Юровских, А. С. Lutfieva, Z. Z. Borodina, М. D. Yurovskikh, А. S.
Issue Date:	2016
Publisher:	Издательство Уральского университета
Citation:	Лутфиева З. З. Методика исследования структуры тонких многокомпонентных металлокерамических пленок / З. З. Лутфиева, М. Д. Бородина, А. С. Юровских // XVII международная научно-техническая Уральская школа-семинар металловедов-молодых ученых. Екатеринбург, 5-9 декабря 2016 : сборник научных трудов. — Екатеринбург : Издательство Уральского университета, 2016. — Ч. 2. — С. 287-291.
Abstract:	С использованием оригинальной методики, включающей: определение интегрального химического состава с одновременным получением металлографического шлифа с помощью анализатора тлеющего разряда GDA-750; методы сканирующей электронной микроскопии с применением микрорентгеноспектрального анализа выявленного горизонта, исследована подповерхностная область электротехнической стали после рекристаллизационно-обезуглероживающего отжига. The subsurface region of electrical steel after recrystallization-decarburization annealing was investigated using an original method consisting of: definition of the integral chemical composition along with simultaneous metallographic polished section production of by means of GDA-750 glow discharge analyzer and scanning electron microscopy with electron microprobe analysis of revealed section.
Keywords:	ТОНКИЕ ПЛЕНКИ АНАЛИЗАТОР ТЛЕЮЩЕГО РАЗРЯДА СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ FE-3%SI ОБЕЗУГЛЕРОЖИВАЮЩИЙ ОТЖИГ ФЕРРИТ ОКСИДЫ THIN FILM GLOW DISCHARGE ANALYZER SCANNING ELECTRON MICROSCOPY ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS FE–3 % SI DECARBURIZATION ANNEALING FERRITE OXIDE
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/59720
Conference name:	XVII Международная научно-техническая Уральская школа-семинар металловедов-молодых ученых
Conference date:	05.12.2016-09.12.2016
ISBN:	978-5-321-02510-9 (Ч. 2) 978-5-321-02508-6
Origin:	XVII международная научно-техническая Уральская школа-семинар металловедов-молодых ученых. Ч. 2. — Екатеринбург, 2016
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-321-02510-9_2016_064.pdf		672,71 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar