Применение дифракционных методов к исследованию микроструктуры композитных Ti-Al-Si-N покрытий

Abstract

В данной работе мы изучаем микроструктуру композитных покрытий на основе нитрида титана методами рентгеновской дифракции. Определен фазовый состав образцов, параметры кристаллических решеток. Исследована степень совершенства этих решеток, определены размеры областей когерентного рассеяния, микронапряжения и остаточные напряжения в образцах. Изучено влияние на физические характеристики покрытий преимущественной ориентации кристаллитов и различных видов напряжений.

In this paper we study the microstructure of the composite coatings based on titanium nitride X-ray diffraction methods. Phase composition of the samples, the size of crystallites, the lattice parameters, microstraine and the residual stress was determined. The degree of perfection of these lattices was investigated. We have studied the effect on the physical characteristics of the coating preferred orientation of crystallites and different kinds of stress.