Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57633
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЧупарина, Е. В.ru
dc.contributor.authorГуничева, Т. Н.ru
dc.date.accessioned2018-03-26T05:50:01Z-
dc.date.available2018-03-26T05:50:01Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationЧупарина Е. В. Оценка эффективности учета матричных эффектов способами, используемыми при прямом РФА растений / Е. В. Чупарина, Т. Н. Гуничева // Аналитика и контроль. — 2004. — № 2. — С. 152-159.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/57633-
dc.description.abstractС помощью теоретических интенсивностей сопоставлены эффективности способов прямого внешнего стандарта, стандарта-фона и α-коррекции с теоретически рассчитанными α1-коэффициентами при рентгенофлуоресцентном определении Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Mn, Fe и Sr в растительных материалах. Это позволило ответить на вопрос о целесообразности привлечения теоретических способов для учета матричных эффектов при прямом многоэлементном РФА порошков растительных материалов.ru
dc.description.abstractThis paper compares the efficiencies of methods of external standard, standard - background and a-correction with the theoretical a -coefficients for x-ray fluorescence determination of Na, Mg, Al, Si. P, S, Cl, K, Ca, Mn, Fe, Sr in plant materials with the help of theoretical intensities. It allowed answering the question about advisability to use theoretical methods for accounting matrix effects under direct multielement XRF analysis of powdered plant materials.en
dc.format.mimetypeapplictaion/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский государственный технический университетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2004. № 2ru
dc.titleОценка эффективности учета матричных эффектов способами, используемыми при прямом РФА растенийru
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
local.description.firstpage152-
local.description.lastpage159-
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik-2004-02-11.pdf1,36 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.