Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57624
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПетрова, Н. И.ru
dc.contributor.authorКорда, Т. М.ru
dc.contributor.authorКоренев, С. В.ru
dc.contributor.authorНовоселов, И. И.ru
dc.date.accessioned2018-03-26T05:50:00Z-
dc.date.available2018-03-26T05:50:00Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationАтомно-абсорбционное определение Ge, Bi, Pt и Se в техническом оксиде германия / Н. И. Петрова, Т. М. Корда, С. В. Коренев [и др.] // Аналитика и контроль. — 2004. — № 2. — С. 104-107.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/57624-
dc.description.abstractРазработаны методики атомно-абсорбционного определения Ge (основной компонент) и примесей Bi, Pt и Se в техническом диоксиде германия. С использованием пламени ацетилен-воздух достигнуто относительное стандартное отклонение результатов определения германия sr= 0,006-0,013 и sr = 0,03 - 0,09 для висмута. Нижние границы определяемых содержаний Bi, Pt и Se при электротермической атомиэации составляют 2·105 , 3·105 и 2·105 % мас. соответственно.ru
dc.description.abstractThe technique for determination of Ge and impurities of BI, Pt and Se in the technical germanium oxide is developed. The relative standard deviations of determination Ge in Ge02 - (0.006-0,013), Bi -{0,03-0,09) when using air-acetylene flame. The lower limits of (he determinable contents are - 2·105 %; 3·105 % and 2·105 mas. tor Bi, Pt and Se, respectively when using graphite furnace with Zeeman background correction.en
dc.format.mimetypeapplictaion/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский государственный технический университетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2004. № 2ru
dc.titleАтомно-абсорбционное определение Ge, Bi, Pt и Se в техническом оксиде германияru
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
local.description.firstpage104-
local.description.lastpage107-
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik-2004-02-02.pdf1,69 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.