Определение основного состава полупроводникового теллурида кадмия потенциометрическим титрованием диэтилдитиокарбаматом натрия

Abstract

Предложен простой и быстрый метод анализа основного состава полупроводникового сплава теллурида кадмия, основанный на дифференцированном потенциометрическом титровании его компонентов раствором диэтилдитиокарбамата натрия с использованием индикаторного стеклоуглеродного электрода и компьютерной обработкой данных титрования. Относительное стандартное отклонение составляет 0,025 и 0,06 при определении теллура и кадмия соответственно.

A simple and rapid method for analysis of transistorized cadmium telluride on content of basic components is suggested his based on the successive potentiometric precipitation of the tellurium (IV) and cadmium (II) with sodium diethyldithiocarbamate solution using indicative glassy carbon electrode and computer for the processing titration data.