Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57134
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЁлтышев, В. П.ru
dc.contributor.authorТетюрев, А. С.ru
dc.date.accessioned2018-03-04T17:48:54Z-
dc.date.available2018-03-04T17:48:54Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.citationЁлтышев В. П. Вопросы метрологического обслуживания оборудования испытательных лабораторий пищевой продукции / В. П. Ёлтышев, А. С. Тетюрев // Аналитика и контроль. — 2003. — № 3. — С. 290-293.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/57134-
dc.description.abstractВ статье рассмотрены основные подходы к метрологическому обслуживанию оборудования испытательных лабораторий пищевой продукции и дана его классификация.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский государственный технический университетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2003. № 3ru
dc.titleВопросы метрологического обслуживания оборудования испытательных лабораторий пищевой продукцииru
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
local.description.firstpage290-
local.description.lastpage293-
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik-2003-03-16.pdf542,75 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.