Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/56880
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorШевелев, Г. А.ru
dc.contributor.authorКембаев, Е. А.ru
dc.contributor.authorБилялова, К. Ж.ru
dc.contributor.authorПахорукова, О. М.ru
dc.contributor.authorЗвонкова, Е. Е.ru
dc.contributor.authorАхметов, Б. Ш.ru
dc.date.accessioned2018-02-26T04:17:30Z-
dc.date.available2018-02-26T04:17:30Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationПроблемы метрологической аттестации аналитического оборудования и методик выполнения измерений, связанных с анализами драгоценных металлов и других материалов / Г. А. Шевелев, Е. А. Кембаев, К. Ж. Билялова [и др.] // Аналитика и контроль. — 2000. — № 4. — С. 354-359.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/56880-
dc.description.abstractРассмотрены практические вопросы метрологической аттестации современного аналитического оборудования и методик выполнения измерений. На обширном экспериментальном материале по анализам драгметаллов и других материалов показано, что независимо от метода. матрицы и определяемого элемента основной вклад в допускаемые отклонения и нормы погрешности вносят неоднородность стандартных образцов и погрешность их изготовления, особенно в области концентраций < 1 ррm. Полученные в работе значения норм погрешностей и допускаемых отклонений рекомендуются для применения в государственных стандартах на МВИ содержания примесей в чистых драгметаллах.ru
dc.format.mimetypeapplcation/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский государственный технический университетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2000. № 4ru
dc.titleПроблемы метрологической аттестации аналитического оборудования и методик выполнения измерений, связанных с анализами драгоценных металлов и других материаловru
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
local.description.firstpage354-
local.description.lastpage359-
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik-2000-04-09.pdf2,37 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.