Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/56849
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Трубачев, А. В. | ru |
dc.contributor.author | Тарасов, В. В. | ru |
dc.date.accessioned | 2018-02-26T04:17:24Z | - |
dc.date.available | 2018-02-26T04:17:24Z | - |
dc.date.issued | 2000 | - |
dc.identifier.citation | Трубачев А. В. Рентгенофлуоресцентно-электрохимическое определение элементного состава продуктов изнашивания металлических покрытий с одновременной оценкой их износостойкости / А. В. Трубачев, В. В. Тарасов // Аналитика и контроль. — 2000. — № 2. — С. 184-186. | ru |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/56849 | - |
dc.description.abstract | Впервые показана возможность примого рентгенофлуоресцентно-электрохимического (РФЭХ.) определения элементного состава продуктов изнашивания многослойных металлических покрытий. Создано оригинальное пробоотборное устройство с дозируемой нагрузкой на истираемую поверхность, позволяющее полностью стандартизировать условия отбора проб для анализа. Сначала ведется рентгенофлуоресцечтное определение металлов на поверхности абразива по интенсивностям соответствующих К«-линий. затем осуществляется электрохимический анализ частиц с этой же поверхности пугем переведения их в кислый минерально-органический фоновый электролит с высокой сольватирующей способностью. | ru |
dc.format.mimetype | applcation/pdf | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Уральский государственный технический университет | ru |
dc.relation.ispartof | Аналитика и контроль. 2000. № 2 | ru |
dc.title | Рентгенофлуоресцентно-электрохимическое определение элементного состава продуктов изнашивания металлических покрытий с одновременной оценкой их износостойкости | ru |
dc.type | Article | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
local.description.firstpage | 184 | - |
local.description.lastpage | 186 | - |
Располагается в коллекциях: | Аналитика и контроль |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
aik-2000-02-10.pdf | 1,4 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.