Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/56847
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Павлова, Л. А. | ru |
dc.contributor.author | Тян, О. А. | ru |
dc.date.accessioned | 2018-02-26T04:17:24Z | - |
dc.date.available | 2018-02-26T04:17:24Z | - |
dc.date.issued | 2000 | - |
dc.identifier.citation | Павлова Л. А. Методические особенности рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа пирохлоров Томторского массива / Л. А. Павлова, О. А. Тян // Аналитика и контроль. — 2000. — № 2. — С. 172-178. | ru |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/56847 | - |
dc.description.abstract | Предложена методика количественного рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа пирохлоров, относящаяся ко II категории количественных определений. Расчет концентраций основных и примесных компонентов, входящих в состав пирохлоров. проведен методом раздельного введения поправок на матричные эффекты Учтено наложение ТiKα-линии с BaLα-линией, BaLβ1-линии с CeLα-линией. Изучено влияние химической связи на положении пика FKα-линии в пирохлорах. Выбраны условия возбуждения и регистрации рентгеновских линий, при которых влияние разрушения образца под зондом незначимо. По разработанной методике с достаточной для решения этой задачи степенью точности и чувствительности изучен химизм пирохлоров, выделены разновидности первичных и вторичных пирохлоров. | ru |
dc.format.mimetype | applcation/pdf | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Уральский государственный технический университет | ru |
dc.relation.ispartof | Аналитика и контроль. 2000. № 2 | ru |
dc.title | Методические особенности рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа пирохлоров Томторского массива | ru |
dc.type | Article | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
local.description.firstpage | 172 | - |
local.description.lastpage | 178 | - |
Располагается в коллекциях: | Аналитика и контроль |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
aik-2000-02-08.pdf | 3,03 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.