Памяти ученого [Р. И. Плотникова]

Abstract

Статья посвящается научному наследию российского ученого Роберта Исааковича Плотникова. Направления его научных интересов по рентгенофлуоресцентному бескристальному анализу сформировались в 70-е годы во время работы во Всесоюзном научно-исследовательском институте разведочной геофизики; в дальнейшем исследования по этому направлению и по кристалл-дифракционному анализу продолжились в НПП «Буревестник». В статье приведена биография ученого, а также представлены его основные научные труды. Р.И. Плотниковым был выполнен цикл работ по бескристальному анализу, где рассматривались вопросы конструкции приборов и методики их применения для анализа различных материалов. В исследованиях по кристалл-дифракционному анализу Плотниковым впервые в отечественной практике рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) изучены и применены для рентгеновских спектрометров способы множественной регрессии и теоретических поправок; способы определения химического сдвига спектральных линий и идентификации материалов. Им были исследованы и усовершенствованы способы фундаментальных параметров, стандарта-фона, а также способы определения толщины фольг и покрытий. Он разработал способы априорной оценки погрешности РФА, статистические и физически обоснованные способы выбора уравнений связи, способы математического моделирования процессов, происходящих в рентгеновском спектрометре при взаимодействии излучения с веществом; предложил способы определения легких элементов в воздушной среде с использованием рассеянного излучения. Плотников также был автором способов сепарации материалов, основанных на повышении чувствительности при измерении эффективного атомного номера материала; кроме того, он обнаружил эффект некогерентного рассеяния флуоресцентного излучения, ранее не отмеченный в научных публикациях.

The article is devoted to the scientific heritage of Robert Isaakovich Plotnikov, a Russian scientist. His research interests in the areas of crystal-free X-ray fluorescence analysis were originally formed in the 1970s during his work at The All-Union Scientific Research Institute of Exploration Geophysics, and were later continued at the "Bourevestnik", Inc. The article presents the biography of the scientist and his fundamental scientific works. Plotnikov carried out a series of research projects in the area of crystal-free analysis, which addressed the design issues of instruments and methods and their application to the analysis of various materials. In the studies of crystal-diffraction analysis, Plotnikov was the first in Russia to consider and apply multiple regression methods and theoretical amendments as well as the methods for determining the chemical shift of the spectral lines and material identification in the X-ray fluorescence analysis (XRF) practice. He investigated and improved upon the techniques of fundamental parameters, standard-background, and the methods for determining the thickness of the foils and coatings. He developed the means of a priori RFA error estimates, statistical and physical-based procedures for selecting the constraint equations, and the ways of mathematical modeling of processes occurring in the X-ray spectrometer during the interaction of the radiation with matter. He also suggested the methods for determining the light elements in the air using the scattered radiation, and authored the ways of materials’ separation based on the sensitivity measurement of the effective atomic number of the material; moreover, he found the effect of incoherent fluorescent radiation scattering, previously unnoticed in scientific publications.