Использование интенсивности рассеянного веществом рентгеновского излучения в практике рентгенофлуоресцентного анализа

Abstract

Выполнен критический обзор опубликованных работ, посвященных теории и практике применения рассеянного первичного рентгеновского излучения веществом. Детально рассмотрены физические основы упругого и неупругого рассеяния рентгеновских фотонов атомами вещества. Сопоставлены результаты расчетов дифференциальных коэффициентов рассеяния с экспериментальными данными различных авторов. Показана необходимость учета вклада многократного рассеяния в интенсивность рассеянного излучения на образцах с малыми атомными номерами. Проведен анализ влияния аномального рассеяния на результаты рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) и возможности его учета. Приведены примеры успешных попыток учета или компенсации изменения коэффициентов рассеяния образцов. Рассмотрены различные случаи использования рассеянного излучения в практике РФА с целью учета матричных эффектов и других трудноконтролируемых факторов. Продемонстрированы примеры эффективного и ограниченного использования рассеянного излучения в регрессионных уравнениях связи и способе теоретических поправок, а также нестандартного применения рассеянного излучения. Сделаны выводы и даны практические рекомендации.

In the present review the works devoted to the theory and use of scattered radiation in practice of X-ray fluorescent analysis are considered and critically discussed. The physical principles of dispersion of x-ray photons in substance are in detail considered, the approximating ratios describing dependences of differential coefficients of coherent and incoherent dispersion for various atomic numbers and wide range of energy and corners are studied. Results of calculations of differential sections of dispersion are compared with experimental results of authors of articles. The special attention is paid to the questions connected with abnormal dispersion and its influence on results of X-ray fluorescent analysis. The most part of considered articles is devoted to various techniques of use of scattered radiation. Expediency of use of intensity of scattered radiation in the regression equations and a way of theoretical amendments is shown. Questions of practical use of the perspective relation - intensity of the fluorescent line of a defined element and a power function of intensity of dispersion are considered. The great interest is caused by works on non-standard use of scattered radiation: to determination of thickness of coverings and easy elements when measurement of fluorescent radiation or is strongly complicated, or in general it is impossible. In conclusion of the review conclusions are drawn and recommendations are made.