Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/42504
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПантеева, С. В.ru
dc.contributor.authorЧеркашина, Т. Ю.ru
dc.contributor.authorРевенко, А. Г.ru
dc.contributor.authorФинкельштейн, А. Л.ru
dc.contributor.authorPanteeva, S. V.en
dc.contributor.authorCherkashina, T. Y.en
dc.contributor.authorRevenko, A. G.en
dc.contributor.authorFinkelshtein, A. L.en
dc.date.accessioned2016-11-20T07:33:06Z-
dc.date.available2016-11-20T07:33:06Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationОценка возможности применения рентгеновского спектрометра с полным внешним отражением S2 PICOFOX для анализа горных пород / С. В. Пантеева, Т. Ю. Черкашина, А. Г. Ревенко [и др.] // Аналитика и контроль. — 2011. — № 3. — С. 344-352.ru
dc.identifier.issn2073-1442-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/42504-
dc.description.abstractОценена возможность применения рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением (TXRF) для определения содержаний элементов в суспензиях из порошковых геологических образцов. Проведены исследования по выбору материала подложки, на которую наносится проба в форме суспензии, а также оптимальных условий приготовления и измерения излучателей. В качестве подложки выбраны кварцевые отражатели. Для выбранных условий оценены пределы обнаружения следовых и основных элементов в суспензиях образцов горных пород. Выполнен эксперимент по схеме однофакторного дисперсионного анализа для оценки погрешности приготовления излучателей. Проведены теоретические и экспериментальные исследования зависимости интенсивности рассеянного первичного рентгеновского излучения от химического состава и поверхностной плотности пробы. Это даёт возможность моделирования эксперимента в случае TXRF.ru
dc.description.abstractThe applicability of total reflection X-ray fluorescence analysis (TXRF) to determine some elements in suspensions of powdered geological samples was evaluated. The studies on the choice of the material for a sample carrier, which the sample in a suspension form is pipetted on, and the optimum conditions for the preparation and measurements of the emitters were carried out. As the sample carrier the quartz sample carriers were chosen. For the chosen measuring conditions the detection limits for a number of trace and major elements in the suspensions of the Certified Reference Materials of rocks were estimated. The experiment was designed according to the one-factor dispersion analysis scheme for the estimation of errors in preparing emitters. Theoretical and experimental investigations the intensity of scattered primary radiation versus the chemical composition and the surface density of the sample were carried out. This allows to pattern the experiment in the case of TXRF.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский федеральный университетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2011. № 3ru
dc.subjectTXRFen
dc.subjectTOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSISen
dc.subjectTXRFen
dc.subjectSUSPENSION OF ROCKSen
dc.subjectРЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ С ПОЛНЫМ ВНЕШНИМ ОТРАЖЕНИЕМru
dc.subjectСУСПЕНЗИИ ГОРНЫХ ПОРОДru
dc.titleОценка возможности применения рентгеновского спектрометра с полным внешним отражением S2 PICOFOX для анализа горных породru
dc.title.alternativeEvaluation of the applicability of S2 PICOFOX spectrometer total reflection to an analysis of rocksen
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik_2011_03_344-352.pdf743,18 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.