Эффекты дифракции в рентгенофлуоресцентном анализе и использование их в аналитических целях

Abstract

Рассмотрены условия возникновения и регистрации дифракционных пиков, которые являются мешающими факторами при проведении рентгенофлуоресцентного анализа, но вместе с тем могут содержать дополнительную полезную аналитическую информацию. На примере анализа сталей на спектрометре «СПЕКТРОСКАН МАКС-GV» показано, как можно устранить мешающие факторы и использовать эту информацию для определения углерода в сталях при использовании излучения средних длин волн.

In measurements on XRF spectrometers can occur diffraction peaks. The conditions of occurrence and registration of the diffraction peaks, which are interfering factors during the X-ray fluorescence analysis, but they may contain additional analytical information. For example, the analysis of steels in the spectrometer «spectroscan MAX-GV» shows how you can eliminate confounding factors and uses additional information to determine the carbon using secondary radiation of wavelengths.