Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/1548
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Кузнецов, Д. К. | ru |
dc.contributor.author | Колосов, В. Ю. | ru |
dc.date.accessioned | 2008-12-11T11:05:10Z | - |
dc.date.available | 2008-12-09T10:37:04Z | - |
dc.date.issued | 2008 | - |
dc.identifier.citation | Кузнецов, Дмитрий Константинович. Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" [Электронный ресурс] / Д. К. Кузнецов, В. Ю. Колосов ; Федер. агентство по образованию, Урал. гос. ун-т им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [и др.]. — Электрон. дан. (1,17 Мб). — Екатеринбург : [б. и.], 2008. | ru |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/1548 | - |
dc.description.abstract | Целью специальной дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" является ознакомление студентов с новейшими достижениями в сканирующей микроскопии и ее применения для исследования наноматериалов. Задачи дисциплины: обзор основных методов сканирующей электронной микроскопии, применяемых для исследования нанообъектов, - обзор основных тенденций развития сканирующей электронной микроскопии в мире. Предназначен для студентов 4 курса. УМКД включает программу дисциплины, вопросы для самоконтроля, методические указания, экзаменационные материалы. | ru |
dc.format.extent | 107881 bytes | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.publisher | б. и. | ru |
dc.subject | НАНОТЕХНОЛОГИИ | ru |
dc.subject | НАНОМАТЕРИАЛЫ | ru |
dc.subject | ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ | ru |
dc.subject | УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВ | ru |
dc.subject | СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ | ru |
dc.title | Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" | ru |
dc.type | Other | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/other | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
Appears in Collections: | Нанотехнологии и перспективные материалы |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
1334959_exam.pdf | 105,35 kB | Adobe PDF | View/Open | |
1334959_methodinst.pdf | 276,69 kB | Adobe PDF | View/Open | |
1334959_tests.pdf | 108,61 kB | Adobe PDF | View/Open | |
1334959_program.pdf | 259,8 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.