Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/1548
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКузнецов, Д. К.ru
dc.contributor.authorКолосов, В. Ю.ru
dc.date.accessioned2008-12-11T11:05:10Z-
dc.date.available2008-12-09T10:37:04Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.citationКузнецов, Дмитрий Константинович. Учебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" [Электронный ресурс] / Д. К. Кузнецов, В. Ю. Колосов ; Федер. агентство по образованию, Урал. гос. ун-т им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [и др.]. — Электрон. дан. (1,17 Мб). — Екатеринбург : [б. и.], 2008.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/1548-
dc.description.abstractЦелью специальной дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии" является ознакомление студентов с новейшими достижениями в сканирующей микроскопии и ее применения для исследования наноматериалов. Задачи дисциплины: обзор основных методов сканирующей электронной микроскопии, применяемых для исследования нанообъектов, - обзор основных тенденций развития сканирующей электронной микроскопии в мире. Предназначен для студентов 4 курса. УМКД включает программу дисциплины, вопросы для самоконтроля, методические указания, экзаменационные материалы.ru
dc.format.extent107881 bytesru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.publisherб. и.ru
dc.subjectНАНОТЕХНОЛОГИИru
dc.subjectНАНОМАТЕРИАЛЫru
dc.subjectОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯru
dc.subjectУЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВru
dc.subjectСКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯru
dc.titleУчебно-методический комплекс дисциплины "Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии"ru
dc.typeOtheren
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/otheren
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
Appears in Collections:Нанотехнологии и перспективные материалы

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1334959_exam.pdf105,35 kBAdobe PDFView/Open
1334959_methodinst.pdf276,69 kBAdobe PDFView/Open
1334959_tests.pdf108,61 kBAdobe PDFView/Open
1334959_program.pdf259,8 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.