Анализ эволюции структуры материалов с использованием дифракции синхротронного рентгеновского излучения

Abstract

В материаловедении для изучения структуры металлов и сплавов часто применяют рентгеноструктурный анализ (РСА). С использованием современных методов профильного анализа, таких как модифицированный метод Вильямсона-Холла и модифицированный метод Уоррена-Авербаха, можно определить размеры областей когерентного рассеяния (ОКР) и особенности дислокационной структуры образцов. Для достижения высокого качества дифракционных картин необходимо применять специализированные источники синхротронного излучения. В данной работе рассматриваются примеры применения профильного анализа для изучения изменений в микроструктуре материалов в процессе деформационного, теплового и фрикционного воздействий.

In materials science, X-ray diffraction analysis (XRD) is often used to study the structure of metals and alloys. Using modern methods of peak profile analysis, such as the modified Williamson-Hall method and the modified Warren-Averbach method, it is possible to determine the size of coherent scattering regions (CSR) and the features of the dislocation structure of samples. To achieve high-quality diffraction patterns, it is necessary to use specialized synchrotron radiation sources. This paper discusses few specific cases when peak profile analysis was used to study changes in the microstructure of materials during deformation, thermal and frictional impacts.