ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/138652| Название: | ЭЛЕКТРОННО-ЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК GAN, ПОДВЕРГНУТЫХ ИОННОМУ ОТЖИГУ |
| Другие названия: | ELECTRON EMISSION SPECTROSCOPY OF GaN THIN FILMS SUBJECTED TO ION-BEAM TREATMENT |
| Авторы: | Кокусов, И. И. Бунтов, Е. А. Зацепин, А. Ф. Баталов, Р. И. Kokusov, I. I. Buntov, E. A. Zatsepin, A. F. Batalov, R. I. |
| Дата публикации: | 2024 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | ЭЛЕКТРОННО-ЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК GAN, ПОДВЕРГНУТЫХ ИОННОМУ ОТЖИГУ / И. И. Кокусов, Е. А. Бунтов, А. Ф. Зацепин, Р. И. Баталов. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов XI Международной молодежной научной конференции, посвященной посвященной 75-летию основания Физико-технологического института (Екатеринбург, 20–25 мая 2024 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2024. — C. 140-141. |
| Аннотация: | In this work, the effect of pulsed ion beam treatment on the structure of GaN films was investigated by studying the processes of optically stimulated electron emission. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/138652 |
| Конференция/семинар: | XI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 75-летию основания Физико-технологического института |
| Дата конференции/семинара: | 20.05.2024-25.05.2024 |
| ISBN: | 978-5-6049106-9-6 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2024). — Екатеринбург, 2024 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-6049106-9-6_2024_050.pdf | 257,11 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.