Программа автоматической аппроксимации вольт-амперных зависимостей, измеренных при помощи сканирующего зондового микроскопа

Abstract

Программа предназначена для аппроксимации в автоматическом режиме локальных вольт-амперных характеристик (ВАХ), измеренных при помощи сканирующего зондового микроскопа. Входные данные: файл TXT, содержащий значения напряжения и величины тока; файл TXT с условиями эксперимента. В программе предусмотрена фильтрация исходных данных от паразитных вкладов с помощью фильтра низких частот для уменьшения уровня шума. Основная функция программы - аппроксимация ВАХ для определения типа и значения локальной электрической проводимости. Программа может быть использована для изучения свойств полупроводников и проводимости заряженных доменных стенок в сегнетоэлектрических материалах. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№ 2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15 2021-677).