Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях

Abstract

Программа предназначена для определения концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок в сегнетоэлектрической керамике. Входные данные: изображение доменной структуры, полученное методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика, и карта границ зерен. К изображению применяется серия фильтров для сглаживания изображения и выявления сегнетоэлектрических доменных стенок. Для выявления доменных стенок используется алгоритм обнаружения границ, основанный на операторе Собеля. Результаты расчета: величина концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок. Программа может быть использована для анализа изображений доменных структур в сегнетоэлектрической керамике. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).