ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/1315| Название: | Учебно-методический комплекс дисциплины "Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов" |
| Авторы: | Горбунов, В. А. Селезнева, Н. В. Губкин, А. Ф. |
| Дата публикации: | 2007 |
| Издатель: | б. и. |
| Библиографическое описание: | Горбунов, Владимир Анатольевич. Учебно-методический комплекс дисциплины "Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов" [Электронный ресурс] / В. А. Горбунов, Н. В. Селезнева, А. Ф. Губкин ; Федер. агентство по образованию, Урал. гос. ун-т им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [и др.]. — Электрон. дан. (3,11 Мб). — Екатеринбург : [б. и.], 2007. |
| Аннотация: | Рассмотрены вопросы дифракции рентгеновских лучей и нейтронов на нанокристаллах. Описаны методы определения размеров кристаллитов (Фурье-синтез, малоугловое рассеяние), определение толщины и числа слоев в сверхрешетках (рентгеновская рефлектометрия), малоугловое рассеяние нейтронов наноматериалами. УМКД включает программу дисциплины, курс лекций, методические указания, экзаменационные материалы. Предназначен для магистров физического и химического факультетов УрГУ. |
| Ключевые слова: | НАНОТЕХНОЛОГИИ НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОКРИСТАЛЛЫ РЕНТГЕНОГРАФИЯ НЕЙТРОНОГРАФИЯ УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ ДЛЯ ВУЗОВ |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/1315 |
| Располагается в коллекциях: | Нанотехнологии и перспективные материалы |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 1324741_exam.pdf | 102,87 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть | |
| 1324741_methodinst.pdf | 174,64 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть | |
| 1324741_tests.pdf | 48,87 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть | |
| 1324741_methodbook.pdf | 2,46 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть | |
| 1324741_program.pdf | 164,66 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.