Программа для вычисления поверхностной плотности заряда в диэлектрике по заданному распределению поверхностного потенциала

Abstract

Программа предназначена для вычисления пространственного распределения плотности поверхностного заряда в диэлектрическом образце из результатов измерения контактной разности потенциалов между поверхностью образца и зондом сканирующего зондового микроскопа методом зонда Кельвина. Для определения пространственного распределения потенциала, созданного поверхностным зарядом, использован метод конечных элементов. Входные данные: (1) тензор диэлектрической проницаемости, (2) распределение поверхностного потенциала; (3) размеры расчётной области. Программа может быть использована, в частности, для изучения влияния инжектированного заряда на локальное переключение поляризации в сегнетоэлектрике проводящим зондом сканирующего зондового микроскопа. Выполнена с использованием Уральского ЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК; ОС: Linux, Windows 8/10/11.