Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/125166
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorNazarov, A. A.en
dc.contributor.authorNokhrin, A. V.en
dc.contributor.authorYunin, P. A.en
dc.contributor.authorAndreev, P. V.en
dc.contributor.authorPotanina, E. A.en
dc.contributor.authorНазаров, А. А.ru
dc.contributor.authorНохрин, А. В.ru
dc.contributor.authorЮнин, П. А.ru
dc.contributor.authorАндреев, П. В.ru
dc.contributor.authorПотанина, Е. А.ru
dc.date.accessioned2023-08-31T10:01:41Z-
dc.date.available2023-08-31T10:01:41Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationРентгенодифракционное исследование керамики, подвергнутой облучению высокоэнергетичными ионами / А. А. Назаров, А. В. Нохрин, П. А. Юнин, П. В. Андреев, Е. А. Потанина. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2022 : тезисы докладов IX Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина, Екатеринбург, 16-20 мая 2022 г. — Екатеринбург: УрФУ, 2022. — С. 771-772. — URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/125166.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/125166-
dc.description.abstractNaNd(WO4)2 and NaNd(MoO4)2 ceramic samples subjected to ion implantation is considered. The degree of amorphization of the near-surface layer of the samples depending on the fluence were obtained. The depth of the amorphized layer was also investigated.en
dc.description.sponsorshipРентгенодифракционные исследования образцов до и после облучения выполнялись в лаборатории диагностики радиационных дефектов в твердотельных наноструктурах ИФМ РАН при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ (г/з № 0030-2021-0030). Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта №20-21-00145_Росатом.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoru-
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2022). — Екатеринбург, 2022ru
dc.titleРентгенодифракционное исследование керамики, подвергнутой облучению высокоэнергетичными ионамиru
dc.title.alternativeX-Ray Diffraction Analysis of Ceramics Irradiated with High-Energy Ionsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/submittedVersionen
dc.conference.nameIX Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопинаru
dc.conference.nameФТИ-2022ru
dc.conference.date16.05.2022-20.05.2022-
local.description.firstpage771-
local.description.lastpage772-
local.fund.rffi20-21-00145
local.contributorНазаров, А. А.ru
local.contributorНохрин, А. В.ru
local.contributorЮнин, П. А.ru
local.contributorАндреев, П. В.ru
local.contributorПотанина, Е. А.ru
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2022_9_354.pdf282,97 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.