ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/125094| Название: | Расчёт степени кристалличности на основе данных рентгеновской дифракции образцов снятых под защитной пленкой |
| Другие названия: | The Computation of Crystallinity Index Based on XRD Data for Samples Protected by Kapton Thin-Film |
| Авторы: | Adamova, A. V. Denisova, O. V. Адамова, А. В. Денисова, О. В. |
| Дата публикации: | 2022 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | Адамова А. В. Расчёт степени кристалличности на основе данных рентгеновской дифракции образцов снятых под защитной пленкой / А. В. Адамова, О. В. Денисова. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2022 : тезисы докладов IX Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина, Екатеринбург, 16-20 мая 2022 г. — Екатеринбург: УрФУ, 2022. — С. 112-113. — URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/125094. |
| Аннотация: | For XRD-analyses, using thin-film for sample protection the algorithm for the crystallinity index computation is proposed. The method is based on the proportionality of the XRD-peak intensity of the crystal phase to its content. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/125094 |
| Конференция/семинар: | IX Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина ФТИ-2022 |
| Дата конференции/семинара: | 16.05.2022-20.05.2022 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2022). — Екатеринбург, 2022 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2022_9_029.pdf | 189,96 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.