Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124506
Название: ВЛИЯНИЕ СРЕДЫ ТЕРМООБРАБОТКИ НА СТРУКТУРНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК NiO
Другие названия: ВЛИЯНИЕ СРЕДЫ ТЕРМООБРАБОТКИ НА СТРУКТУРНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК NiO
Авторы: Artemyevm M. S.
Izyurov, V. V.
Merentsova, K. A.
Desyatnikov, I. A.
Dubinin, S. S.
Nosov, A. P.
Артемьев, М. С.
Изюров, В. В.
Меренцова, К. А.
Десятников, И. А.
Дубинин, С. С.
Носов, А. П.
Дата публикации: 2023
Издатель: Издательство АМБ
Библиографическое описание: ВЛИЯНИЕ СРЕДЫ ТЕРМООБРАБОТКИ НА СТРУКТУРНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК NiO / М. С. Артемьев, В. В. Изюров, К. А. Меренцова, И. А. Десятников, С. С. Дубинин, А. П. Носов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов X Международной молодежной научной конференции, посвященной 120-летию со дня рождения академиков И. В. Курчатова и А. П. Александрова (Екатеринбург, 15–19 мая 2023 г.). — Екатеринбург : Издательство АМБ, 2023. — C. 132-133.
Аннотация: Nickel oxide NiO is a light-plane antiferromagnet of the second type (S = 1) with a nickel temperature TN = 523 K. The crystal structure of NiO belongs to the NaCl type (Fm-3m spatial group) unit cell parameter a = 0.4182 nm [1]. Thin films of nickel oxide are of great interest for modern antiferrom.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124506
Конференция/семинар: X Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 120-летию со дня рождения академиков И. В. Курчатова и А. П. Александрова
Дата конференции/семинара: 15.05.2023-19.05.2023
ISBN: 978-5-6050040-2-8
Сведения о поддержке: Работа выполнена в рамках государственного задания МИНОБРНАУКИ России (тема «Функция», номер госрегистрации 122021000035–6).
Источники: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2023)
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-6050040-2-8_2023_044.pdf283,08 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.