ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/123914| Название: | МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЙ ЦИФРОВЫХ ВЫСОКОПРОИЗВОДИТЕЛТНЫХ МИКРОСХЕМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИОНИЗИРУЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ |
| Другие названия: | A TEST METHODOLOGY FOR DIGITAL HIGH PERFORMANCE MICROCIRCUITS UNDER IONIZING RADIATION |
| Авторы: | Волошин, Е. В. Сорокоумов, Г. С. Voloshin, E. V. Sorokoumov, G. S. |
| Дата публикации: | 2021 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | Волошин Е. В. МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЙ ЦИФРОВЫХ ВЫСОКОПРОИЗВОДИТЕЛТНЫХ МИКРОСХЕМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИОНИЗИРУЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ / Е. В. Волошин, Г. С. Сорокоумов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VIII Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 17–21 мая 2021 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2021. — C. 350-351. |
| Аннотация: | Methodological features of microcircuits research under the influence of ionizing radia-tion using simulators are presented, radiation effects are considered, and also typical con-trolled parameters of microcircuits during exposure are given. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/123914 |
| Конференция/семинар: | VIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
| Дата конференции/семинара: | 17.05.2021-21.05.2021 |
| ISBN: | 978-5-8295-0769-5 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2021) |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-8295-0769-5_2021_169.pdf | 197,22 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.