Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/110165
Название: Исследование структурного состояния плёнок Ta/NixMn100-x/Ta, полученных магнетронным распылением
Другие названия: STRUCTURAL INVESTIGATION OF MAGNETRON SPUTTERED Ta/NixMn100-x/Ta FILMS
Авторы: Москалев, М. Е.
Лепаловский, В. Н.
Наумова, Л. И.
Юшков, А. А.
Колосов, В. Ю.
Васьковский, В. О.
Moskalev, M. E.
Lepalovskij, V. N.
Naumova, L. I.
Yushkov, A. A.
Kolosov, V. Y.
Vas’kovskiy, V. O.
Дата публикации: 2018
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Исследование структурного состояния плёнок Ta/NixMn100-x/Ta, полученных магнетронным распылением / М. Е. Москалев, В. Н. Лепаловский, Л. И. Наумова, А. А. Юшков, В. Ю. Колосов, В. О. Васьковский // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов V Международной молодежной научной конференции, посвященной памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова (Екатеринбург, 14–18 мая 2018 г.) : Секция 1. Физика конденсированного состояния. — Екатеринбург : [УрФУ], 2018. — C. 138-139.
Аннотация: The structural properties of both as-deposited and annealed magnetron sputtered Ta/NixMn100-x/Ta films were studied by means of X-ray diffraction and transmission electron microscopy. By changing the NiMn composition and annealing parameters, such as temperature and duration, it is possible to obtain different structural states and phases of NiMn. The effect of the underlying Ta layer on the growth of NiMn was also investigated.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/110165
Конференция/семинар: V Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2018)», посвященная памяти Почетного профессора УрФУ В. С. Кортова
Дата конференции/семинара: 14.05.2018-18.05.2018
Источники: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2018)
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2018_1_081.pdf539,58 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.