ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/108027| Название: | Размерный эффект в электросопротивлении тонких пленок Bi2Se3 |
| Другие названия: | SIZE EFFECT IN THE ELECTRICAL RESISTIVITY OF THIN FILMS Bi2Se3 |
| Авторы: | Доможирова, А. Н. Чистяков, В. В. Huang, J. C. A. Марченков, В. В. Domozhirova, A. N. Chistyakov, V. V. Huang, J. C. A. Marchenkov, V. V. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | Размерный эффект в электросопротивлении тонких пленок Bi2Se3 / А. Н. Доможирова, В. В. Чистяков, J. C. A. Huang, В. В. Марченков // Физика. Технологии. Инновации (Секция 1) : тезисы докладов IV Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 15–19 мая 2017 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2017. — C. 126-127. |
| Аннотация: | Temperature dependence of the electrical resistivity for thin films of topological insulator Bi2Se3 with thicknesses of 10, 20, 30, 40 and 50 nm were measured in the temperature range from 4.2 to 300 K. Size effect, i.e. a linear dependence of the resistivity on the film inverse thickness, was found. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/108027 |
| Конференция/семинар: | IV Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
| Дата конференции/семинара: | 15.05.2017-19.05.2017 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2017). — Екатеринбург, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2017_076.pdf | 651,25 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.