Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/107753
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСоколенко, Б. В.ru
dc.contributor.authorПолетаев, Д. А.ru
dc.contributor.authorХалилов, С.ru
dc.contributor.authorПогребная, А. О.ru
dc.contributor.authorSokolenko, B. V.en
dc.contributor.authorPoletaev, D. A.en
dc.contributor.authorKhalilov, S.en
dc.contributor.authorPogrebnaya, А. О.en
dc.date.accessioned2022-01-26T10:45:32Z-
dc.date.available2022-01-26T10:45:32Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationОптический сканирующий профилометр / Б. В. Соколенко, Д. А. Полетаев, С. Халилов, А. О. Погребная // Физика. Технологии. Инновации (Секция 1) : тезисы докладов IV Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 15–19 мая 2017 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2017. — C. 53-55.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/107753-
dc.description.abstractIn this report we apply a new laser scanning profilometer and review principles and applications of using an optical vortex in high spatial resolution metrology at nanoscale three-dimensional regime. The phase-shifting technique with coherent Laguerre-Gaussian beams demonstrates ability to examine profile of transparent and reflecting samples with high accuracy and resolution down to 1 nm.en
dc.description.sponsorshipДанная работа выполнена в рамках ГСУ-проекта «АММУР – академическая мобильность молодых ученых России» Программы развития ФГАОУ ВО «КФУ им. В.И. Вернадского».ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2017). — Екатеринбург, 2017ru
dc.titleОптический сканирующий профилометрru
dc.title.alternativeOPTICAL SCANNING PROFILOMETERen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameIV Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»ru
dc.conference.date15.05.2017-19.05.2017-
local.description.firstpage53
local.description.lastpage55
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2017_029.pdf699,4 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.