Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии

Гурьева, П. В.; Храмов, Е. В.; Gureva, P. V.; Khramov, E. V.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/107734

Title:	Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии
Other Titles:	INVESTIGATION OF SILICON-CARBON NANOCOMPOSITES CONTAINING TUNGSTEN BY EXAFS-SPECTROSCOPY
Authors:	Гурьева, П. В. Храмов, Е. В. Gureva, P. V. Khramov, E. V.
Issue Date:	2017
Publisher:	УрФУ
Citation:	Гурьева П. В. Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии / П. В. Гурьева, Е. В. Храмов // Физика. Технологии. Инновации (Секция 2. Химические технологии и материаловедение) : тезисы докладов IV Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 15–19 мая 2017 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2017. — C. 191-192.
Abstract:	The report presents results of studying the structure of tungsten-containing siliconcarbon films based on PPMS (polyphenyl methylsiloxane) by fluorescent EXAFS spectroscopy at Kurchatov synchrotron radiation source.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/107734
Conference name:	IV Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»
Conference date:	15.05.2017-19.05.2017
Origin:	Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2017). — Екатеринбург, 2017
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
fti_2017_272.pdf		270,48 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar