Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/107734
Title: | Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии |
Other Titles: | INVESTIGATION OF SILICON-CARBON NANOCOMPOSITES CONTAINING TUNGSTEN BY EXAFS-SPECTROSCOPY |
Authors: | Гурьева, П. В. Храмов, Е. В. Gureva, P. V. Khramov, E. V. |
Issue Date: | 2017 |
Publisher: | УрФУ |
Citation: | Гурьева П. В. Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии / П. В. Гурьева, Е. В. Храмов // Физика. Технологии. Инновации (Секция 2. Химические технологии и материаловедение) : тезисы докладов IV Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 15–19 мая 2017 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2017. — C. 191-192. |
Abstract: | The report presents results of studying the structure of tungsten-containing siliconcarbon films based on PPMS (polyphenyl methylsiloxane) by fluorescent EXAFS spectroscopy at Kurchatov synchrotron radiation source. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/107734 |
Conference name: | IV Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
Conference date: | 15.05.2017-19.05.2017 |
Origin: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2017). — Екатеринбург, 2017 |
Appears in Collections: | Конференции, семинары |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
fti_2017_272.pdf | 270,48 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.