Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/107734
Название: Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии
Другие названия: INVESTIGATION OF SILICON-CARBON NANOCOMPOSITES CONTAINING TUNGSTEN BY EXAFS-SPECTROSCOPY
Авторы: Гурьева, П. В.
Храмов, Е. В.
Gureva, P. V.
Khramov, E. V.
Дата публикации: 2017
Издатель: УрФУ
Библиографическое описание: Гурьева П. В. Исследование вольфрам-содержащих кремний-углеродных нанокомпозитов методом EXAFS-спектроскопии / П. В. Гурьева, Е. В. Храмов // Физика. Технологии. Инновации (Секция 2. Химические технологии и материаловедение) : тезисы докладов IV Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 15–19 мая 2017 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2017. — C. 191-192.
Аннотация: The report presents results of studying the structure of tungsten-containing siliconcarbon films based on PPMS (polyphenyl methylsiloxane) by fluorescent EXAFS spectroscopy at Kurchatov synchrotron radiation source.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/107734
Конференция/семинар: IV Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»
Дата конференции/семинара: 15.05.2017-19.05.2017
Источники: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2017). — Екатеринбург, 2017
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2017_272.pdf270,48 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.