1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104174
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБаталов, Р. И.ru
dc.contributor.authorНуждин, В. И.ru
dc.contributor.authorВалеев, В. Ф.ru
dc.contributor.authorБизяев, Д. А.ru
dc.contributor.authorБухараев, А. А.ru
dc.contributor.authorВоробьев, В. В.ru
dc.contributor.authorОсин, Ю. Н.ru
dc.contributor.authorИвлев, Г. Д.ru
dc.contributor.authorСтепанов, А. Л.ru
dc.contributor.authorBatalov, R. I.en
dc.contributor.authorNuzhdin, V. I.en
dc.contributor.authorValeev, V. F.en
dc.contributor.authorBizyaev, D. A.en
dc.contributor.authorBukharaev, A. A.en
dc.contributor.authorVoro ’ev, V. V.en
dc.contributor.authorOsin, Yu. N.en
dc.contributor.authorIvlev, G. D.en
dc.contributor.authorStepanov, A. L.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:41Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:41Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationСтруктурные и оптические свойства тонкопленочного сплава GeSi с наночастицами Ag, полученного последовательно ионной имплантацией и лазерным облучением / Р. И. Баталов, В. И. Нуждин, В. Ф. Валеев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 114-114 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104174-
dc.description.abstractВ данной работе впервые изучено влияние импульсного лазерного отжига (ИЛО) излучением рубинового лазера на слои монокристаллического Si, имплантированного ионами Ge+и Ag+, с целью создания кристаллического композитного плазмонного материала Ag:GeSi. Изучена трансформация структуры слоя и его оптического отражения в зависимости от режимов отжига.ru
dc.description.abstractIn this work for the first time the effect of pulsed laser annealing by ruby laser radiation to monocrystalline Si layers implanted by Ge+and Ag+ ions in order to produce crystalline composite plasmonic Ag:GeSi material is studied. The transformation of layer structure and its optical reflectance depending on annealing regimes is investigated.en
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при финансовой поддержке РНФ № 17-12-01176.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//17-12-01176en
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleСтруктурные и оптические свойства тонкопленочного сплава GeSi с наночастицами Ag, полученного последовательно ионной имплантацией и лазерным облучениемru
dc.title.alternativeStructural and optical properties of thin-film GeSi alloy with Ag nanoparticles obtained by ion implantation and laser irradiationen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage114-
local.description.lastpage114-
local.description.orderP-04-
local.fund.rsf17-12-01176-
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_067.pdf280,22 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record   Google Scholar





Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.