Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/104111
Title: Формирование дендритных доменных структур в монокристаллах ниобата лития
Other Titles: Formation of the dendritic domain structures in lithium niobate single crystals
Authors: Чувакова, М. А.
Ахматханов, А. Р.
Савельев, Е. Д.
Есин, А. А.
Чезганов, Д. С.
Зеленовский, П. С.
Шур, В. Я.
Chuvakova, M. A.
Akhmatkhanov, A. R.
Savelev, E. D.
Esin, A. A.
Chezganov, D. S.
Zelenovskiy, P. S.
Shur, V. Ya.
Issue Date: 2017
Publisher: Ural Federal University
Citation: Формирование дендритных доменных структур в монокристаллах ниобата лития / М. А. Чувакова, А. Р. Ахматханов, Е. Д. Савельев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 271 p.
Abstract: Исследование роста дендритных доменных структур проведено в монокристаллах конгруэнтного ниобата лития (CLN) с искусственным диэлектрическим слоем при переключении поляризации при повышенных температурах. С помощью in situ визуализации проанализирована кинетика доменной структуры. Определены глубина и геометрические параметры сформированных доменных структур.
The growth of dendritic domain structures was studied in congruent lithium niobate (CLN) single crystals during polarization reversal with artificial dielectric layer at elevated temperatures. Using in situ visualization domain structure kinetics was analyzed. The depth and geometric parameters of static domain structures was identified.
URI: http://hdl.handle.net/10995/104111
Conference name: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
metadata.dc.description.sponsorship: В работе использовалось оборудование УЦКП "Современные нанотехнологии" УрФУ. Работа выполнена при финансовой поддержке Российского Научного Фонда (грант 14-12-00826).
RSCF project card: 14-12-00826
Origin: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_160.pdf280,54 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.