ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104077| Название: | Point defects and anelasticity in pure and Gd-doped ceria |
| Авторы: | Kraynis, O. Wachtel, E. Frenkel, A. Lubomirsky, I. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Point defects and anelasticity in pure and Gd-doped ceria / O. Kraynis, E. Wachtel, A. Frenkel et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 23-23 p. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104077 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_013.pdf | 115,01 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.