Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104055
Title: Влияние замещения Fe на Cr на сегнетоэлектрические и магнитные свойства мультиферроиков PbFe0.5Nb0.5O3, PbFe0.5Sb0.5O3 и BiFeO3
Other Titles: Тhe effect of Cr substitution for Fe on ferroelectric and magnetic properties of PbFe0.5Nb0.5O3, PbFe0.5Sb0.5O3 and BiFeO3 multiferroics
Authors: Раевский, И. П.
Кубрин, С. П.
Пушкарев, А. В.
Олехнович, Н. М.
Радюш, Ю. В.
Титов, В. В.
Малицкая, М. А.
Раевская, С. И.
Сташенко. В. В.
Raevski, I. P.
Kubrin, S. P.
Pushkarev, A. V.
Olekhnovich, N. M.
Radyush, Y. V.
Titov, V. V.
Malitskaya, M. A.
Raevskaya, S. I.
Stashenko, V. V.
Issue Date: 2017
Publisher: Ural Federal University
Citation: Влияние замещения Fe на Cr на сегнетоэлектрические и магнитные свойства мультиферроиков PbFe0.5Nb0.5O3, PbFe0.5Sb0.5O3 и BiFeO3 / И. П. Раевский, С. П. Кубрин, А. В. Пушкарев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 21-21 p.
Abstract: Проведены диэлектрические и мессбауэровские исследования сегнетоэлектрических и магнитных фазовых переходов в твердых растворах PbFe0.5-xCrxNb0.5O3, BiFe1-xCrxO3, PbFe0.5-xCrxSb0.5O3. Во всех этих системах замещение железа хромом разрушает как сегнетоэлектрический, так и магнитный дальний порядок.
PbFe0.5-xCrxNb0.5O3, BiFe1-xCrxO3, PbFe0.5-xCrxSb0.5O3 solid solutions have been carried out. In all the systems studied Cr substitution for Fe destroys both ferroelectric and magnetic long-range order.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104055
Conference name: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
metadata.dc.description.sponsorship: Работа выполнена при поддержке Российского Фонда Фундаментальных Исследований (грант 16-52-0072 Бел_a) и Белорусского Республиканского Фонда Фундаментальных Исследований (грант T16R-079).
Origin: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_011.pdf280,39 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.