ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104055| Название: | Влияние замещения Fe на Cr на сегнетоэлектрические и магнитные свойства мультиферроиков PbFe0.5Nb0.5O3, PbFe0.5Sb0.5O3 и BiFeO3 |
| Другие названия: | Тhe effect of Cr substitution for Fe on ferroelectric and magnetic properties of PbFe0.5Nb0.5O3, PbFe0.5Sb0.5O3 and BiFeO3 multiferroics |
| Авторы: | Раевский, И. П. Кубрин, С. П. Пушкарев, А. В. Олехнович, Н. М. Радюш, Ю. В. Титов, В. В. Малицкая, М. А. Раевская, С. И. Сташенко. В. В. Raevski, I. P. Kubrin, S. P. Pushkarev, A. V. Olekhnovich, N. M. Radyush, Y. V. Titov, V. V. Malitskaya, M. A. Raevskaya, S. I. Stashenko, V. V. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Влияние замещения Fe на Cr на сегнетоэлектрические и магнитные свойства мультиферроиков PbFe0.5Nb0.5O3, PbFe0.5Sb0.5O3 и BiFeO3 / И. П. Раевский, С. П. Кубрин, А. В. Пушкарев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 21-21 p. |
| Аннотация: | Проведены диэлектрические и мессбауэровские исследования сегнетоэлектрических и магнитных фазовых переходов в твердых растворах PbFe0.5-xCrxNb0.5O3, BiFe1-xCrxO3, PbFe0.5-xCrxSb0.5O3. Во всех этих системах замещение железа хромом разрушает как сегнетоэлектрический, так и магнитный дальний порядок. PbFe0.5-xCrxNb0.5O3, BiFe1-xCrxO3, PbFe0.5-xCrxSb0.5O3 solid solutions have been carried out. In all the systems studied Cr substitution for Fe destroys both ferroelectric and magnetic long-range order. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104055 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | Работа выполнена при поддержке Российского Фонда Фундаментальных Исследований (грант 16-52-0072 Бел_a) и Белорусского Республиканского Фонда Фундаментальных Исследований (грант T16R-079). |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_011.pdf | 280,39 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.