ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Structural, morphological and 1/f noise properties of ITO/TiO2thin films by e-beam evaporation system for optoelectronic device applications | 103 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Structural, morphological and 1/f noise properties of ITO/TiO2thin films by e-beam evaporation system for optoelectronic device applications | 9 | 1 | 3 | 1 | 1 | 6 | 3 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 2-s2.0-85096445630.pdf | 123 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 50 |
| Россия | 22 |
| Соединенное Королевство | 7 |
| Франция | 5 |
| Германия | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
| Бразилия | 1 |
| Финляндия | 1 |
| Индия | 1 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 15 |
| Ashburn | 9 |
| San Mateo | 5 |
| Hanoi | 3 |
| Atlanta | 1 |
| Boardman | 1 |
| Des Moines | 1 |
| Edinburgh | 1 |
| Khimki | 1 |
| Mumbai | 1 |