Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/103289
Название: Application of synchrotron radiation to study the surface atomic structure of 2D materials
Авторы: Arkhandeev, I. A.
Ogorodnikov, I. I.
Yashina, L. V.
Kuznetsova, T. V.
Kuznetsov, M. V.
Дата публикации: 2020
Издатель: American Institute of Physics Inc.
Библиографическое описание: Application of synchrotron radiation to study the surface atomic structure of 2D materials / I. A. Arkhandeev, I. I. Ogorodnikov, L. V. Yashina, et al. — DOI 10.1063/5.0030848 // AIP Conference Proceedings. — 2020. — Vol. 2299. — 040004.
Аннотация: In this paper, the current state of X-ray photoelectron diffraction and holography methods are considered. A brief overview of surface research methods is given. The photoelectron diffraction method is attractive for use because of its sensitivity to the chemical environment, as well as its large depth of analysis (units of nanometers). The paper presents the application of methods for studying the atomic structure of bismuth chalcogenides Bi2X3 (X: Se,Te). The results of the holography were verified by theoretical modeling of diffraction patterns using the EDAC algorithm. © 2020 American Institute of Physics Inc. All rights reserved.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/103289
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 85096475039
Идентификатор PURE: 20119430
08f6da06-1eac-4719-b64d-a0fa7d5fc3cf
ISSN: 0094243X
ISBN: 9780735440333
DOI: 10.1063/5.0030848
Сведения о поддержке: The reported study was funded by RFBR, project number 19-29-12061 and was carried out within the state assignment of Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation (theme “Spin” No. АААА-А18-118020290104-2). L.V.Yashina acknowledges the support of her experimental work by RSF, grant 19-42-06303. We thank HZB for the allocation of synchrotron radiation beamtime.
Карточка проекта РНФ: 19-42-06303
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2-s2.0-85096475039.pdf797,99 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.