Исследование встроенного электрического поля от заряженных дефектов в поликристаллическом феррите висмута методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика

Аликин, Д. О.; Абрамов, А. С.; Турыгин, A. П.; Пряхина, В. И.; Карпинский, Д.; Иевлев, А. В.; Шур, В. Я.; Целев, А.; Холкин, A. Л.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/101114

Title:	Исследование встроенного электрического поля от заряженных дефектов в поликристаллическом феррите висмута методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика
Authors:	Аликин, Д. О. Абрамов, А. С. Турыгин, A. П. Пряхина, В. И. Карпинский, Д. Иевлев, А. В. Шур, В. Я. Целев, А. Холкин, A. Л.
Issue Date:	2021
Publisher:	Уральский федеральный университет
Citation:	Исследование встроенного электрического поля от заряженных дефектов в поликристаллическом феррите висмута методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика / Д. О. Аликин, А. С. Абрамов, A. П. Турыгин, В. И. Пряхина, Д. Карпинский, А. В. Иевлев, В. Я. Шур, А. Целев, A. Л. Холкин // XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII) : сборник тезисов (Екатеринбург, 25-28 августа 2021 г.). — Екатеринбург: Уральский федеральный университет, 2021. — С. 23.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/101114
Conference name:	XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII)
Conference date:	25.08.2021-28.08.2021
ISBN:	978-5-9500624-4-5
Sponsorship:	Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект 19-72-10076).
RSCF project card:	19-72-10076
Origin:	XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII). — Екатеринбург, 2021
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-4-5_013.pdf		423,46 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record