Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/101114
Название: Исследование встроенного электрического поля от заряженных дефектов в поликристаллическом феррите висмута методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика
Авторы: Аликин, Д. О.
Абрамов, А. С.
Турыгин, A. П.
Пряхина, В. И.
Карпинский, Д.
Иевлев, А. В.
Шур, В. Я.
Целев, А.
Холкин, A. Л.
Дата публикации: 2021
Издатель: Уральский федеральный университет
Библиографическое описание: Исследование встроенного электрического поля от заряженных дефектов в поликристаллическом феррите висмута методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика / Д. О. Аликин, А. С. Абрамов, A. П. Турыгин, В. И. Пряхина, Д. Карпинский, А. В. Иевлев, В. Я. Шур, А. Целев, A. Л. Холкин // XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII) : сборник тезисов (Екатеринбург, 25-28 августа 2021 г.). — Екатеринбург: Уральский федеральный университет, 2021. — С. 23.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/101114
Конференция/семинар: XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII)
Дата конференции/семинара: 25.08.2021-28.08.2021
ISBN: 978-5-9500624-4-5
Сведения о поддержке: Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект 19-72-10076).
Карточка проекта РНФ: 19-72-10076
Источники: XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII). — Екатеринбург, 2021
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-4-5_013.pdf423,46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.