Browsing by Subject ДЕСТРУКТИВНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ
Showing results 1 to 1 of 1
Issue Date | Title | Author(s) |
---|---|---|
2018 | Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхем | Кучин, Д. М.; Паршин, Д. А. |