1. Электронный научный архив УрФУ

Просмотр коллекции по группе - По тематике ДЕСТРУКТИВНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 1 из 1
Дата публикацииНазваниеАвторы
2018Применение методов деструктивного тестирования, рентгеновского и логического анализа для анализа работы интегральных микросхемКучин, Д. М.; Паршин, Д. А.
Отображение результатов 1 до 1 из 1